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Saturation of front propagation in a reaction-diffusion process describing plasma damage in porous low-k materials

机译:反应 - 扩散过程中前向传播的饱和度   描述多孔低k材料中的等离子体损伤

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摘要

We propose a three-component reaction-diffusion system yielding an asymptoticlogarithmic time-dependence for a moving interface. This is naturally relatedto a Stefan-problem for which both one-sided Dirichlet-type and vonNeumann-type boundary conditions are considered. We integrate the dependence ofthe interface motion on diffusion and reaction parameters and we observe achange from transport behavior and interface motion \sim t^1/2 to logarithmicbehavior \sim ln t as a function of time. We apply our theoretical findings tothe propagation of carbon depletion in porous dielectrics exposed to a lowtemperature plasma. This diffusion saturation is reached after about 1 minutein typical experimental situations of plasma damage in microelectronicfabrication. We predict the general dependencies on porosity and reactionrates.
机译:我们提出了一种三组分反应扩散系统,该系统为运动界面产生了渐近对数时间依赖性。这自然与一个Stefan问题有关,在该问题中同时考虑了单侧Dirichlet型和vonNeumann型边界条件。我们整合了界面运动对扩散和反应参数的依赖性,并观察到了从运输行为和界面运动\ sim t ^ 1/2到对数行为\ sim ln t随时间的变化。我们将理论发现应用于暴露于低温等离子体的多孔电介质中碳耗尽的传播。在微电子制造中等离子体损坏的典型实验情况下,约1分钟后达到此扩散饱和。我们预测了对孔隙率和反应速率的一般依赖性。

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